Орехов, Сергей Владимирович - Дифрактометрия высокой точности при электронографическом исследовании структуры аморфных тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.18

Экспресс-заказ фрагмента
Орехов, Сергей Владимирович.
Дифрактометрия высокой точности при электронографическом исследовании структуры аморфных тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.18 / Рос. АН Ин-т кристал. им. А. В. Шубникова. - Москва, 1992. - 21 с.

Кристаллография, физика кристаллов
Шифр хранения:
FB 9 92-4/1432-8
FB 9 92-4/1433-6

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеДифрактометрия высокой точности при электронографическом исследовании структуры аморфных тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.18
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог авторефератов диссертаций
Дата поступления в ЕЭК 13.11.1992
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиРос. АН Ин-т кристал. им. А. В. Шубникова
Выходные данныеМосква, 1992
Физическое описание21 с.
ТемаКристаллография, физика кристаллов
BBK-кодВ372.4,03
В372.144с31,03
Специальность01.04.18: Кристаллография, физика кристаллов
ЯзыкРусский
Места храненияFB 9 92-4/1432-8
FB 9 92-4/1433-6