Система работает в тестовом режиме. Предыдущая версия поиска доступна по ссылке.

Орехов, Сергей Владимирович - Дифрактометрия высокой точности при электронографическом исследовании структуры аморфных тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.18

Карточка

Орехов, Сергей Владимирович.

Дифрактометрия высокой точности при электронографическом исследовании структуры аморфных тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.18 / Рос. АН Ин-т кристал. им. А. В. Шубникова. - Москва, 1992. - 21 с.
Кристаллография, физика кристаллов
9 92-4/1432-8
9 92-4/1433-6

Marc21

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеДифрактометрия высокой точности при электронографическом исследовании структуры аморфных тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.18
Дата поступления в ЭК 13.11.1992
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиРос. АН Ин-т кристал. им. А. В. Шубникова
Выходные данныеМосква, 1992
Физическое описание21 с.
ТемаКристаллография, физика кристаллов
BBK-кодВ372.4,03
В372.144с31,03
Специальность01.04.18: Кристаллография, физика кристаллов
ЯзыкРусский
Места хранения9 92-4/1432-8
9 92-4/1433-6