Система работает в тестовом режиме. Предыдущая версия поиска доступна по ссылке.

Галкин, Игорь Михайлович - Исследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.01.10

Карточка

Галкин, Игорь Михайлович.
Галкин, Игорь Михайлович.

Исследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.01.10 / Курчатовский ин-т. - Москва, 1992. - 20 с.
9 92-3/2904-5
9 92-3/2905-3

Документ в свободном доступе. Читать 

Описание

Автор
ЗаглавиеИсследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.01.10
Коллекции ЭБ Авторефераты
Дата поступления в ЭК 20.08.1992
Дата поступления в ЭБ 01.10.2008
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиКурчатовский ин-т
Выходные данныеМосква, 1992
Физическое описание20 с.
BBK-кодВ379.221,03
В379.225,03
ЯзыкРусский
Места хранения9 92-3/2904-5
9 92-3/2905-3
Электронный адрес Электронный ресурс

Marc21

Показать

Документ

Страница 1 / 1