Система работает в тестовом режиме. Предыдущая версия поиска доступна по ссылке.

Овчаренко, Евгений Николаевич - Исследование технологических потерь БИС с применением электрических тестовых структур : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01

Карточка

Овчаренко, Евгений Николаевич.
Овчаренко, Евгений Николаевич.

Исследование технологических потерь БИС с применением электрических тестовых структур : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / НИИ физических проблем им. Ф. В. Лукина. - Москва, 1993. - 24 с.
Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
9 94-1/575-4

Документ в свободном доступе. Читать 

Описание

Автор
ЗаглавиеИсследование технологических потерь БИС с применением электрических тестовых структур : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01
Коллекции ЭБ Авторефераты
Дата поступления в ЭК 01.03.1994
Дата поступления в ЭБ 29.01.2008
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиНИИ физических проблем им. Ф. В. Лукина
Выходные данныеМосква, 1993
Физическое описание24 с.
ТемаТвердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
BBK-кодЗ844.152-06-64-5-05,0
Специальность05.27.01: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
ЯзыкРусский
Места хранения9 94-1/575-4
Электронный адрес Электронный ресурс

Marc21

Показать

Документ

Страница 1 / 1