Вълков, Ивелин Цветанов - Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01

Экспресс-заказ фрагмента
Вълков, Ивелин Цветанов.
Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01. - Санкт-Петербург, 1994. - 165 с. : ил.

Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
Шифр хранения:
OD 61 94-5/1095-8

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеАппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог диссертаций
Дата поступления в ЕЭК 14.10.1998
Каталоги Диссертации
Выходные данныеСанкт-Петербург, 1994
Физическое описание165 с. : ил.
ТемаТвердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
Специальность05.27.01: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
ЯзыкРусский
Места храненияOD 61 94-5/1095-8