Шретер, Юрий Георгиевич - Исследование оптических и электрических свойств кристаллов Si и Ge, содержащих дислокации и границы зерен : диссертация ... доктора физико-математических наук в форме науч. докл. : 01.04.10

Экспресс-заказ фрагмента
Шретер, Юрий Георгиевич.
Исследование оптических и электрических свойств кристаллов Si и Ge, содержащих дислокации и границы зерен : диссертация ... доктора физико-математических наук в форме науч. докл. : 01.04.10. - Санкт-Петербург, 1993. - 54 с. : ил.; 29х21 см.

Физика полупроводников и диэлектриков
Шифр хранения:
OD 71 94-1/119-4

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеИсследование оптических и электрических свойств кристаллов Si и Ge, содержащих дислокации и границы зерен : диссертация ... доктора физико-математических наук в форме науч. докл. : 01.04.10
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог диссертаций
Дата поступления в ЕЭК 03.06.1999
Каталоги Диссертации
Выходные данныеСанкт-Петербург, 1993
Физическое описание54 с. : ил.; 29х21 см
ТемаФизика полупроводников и диэлектриков
BBK-кодВ379.24,03
В379.371,03
Специальность01.04.10: Физика полупроводников
ЯзыкРусский
Места храненияOD 71 94-1/119-4