Галкин, Игорь Михайлович - Исследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.01.10

Экспресс-заказ фрагмента
Галкин, Игорь Михайлович.
Исследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.01.10 / Курчатовский ин-т. - Москва, 1992. - 102 с. : ил.

Шифр хранения:
OD 61 93-1/407

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеИсследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.01.10
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог диссертаций
Дата поступления в ЕЭК 20.08.1992
Каталоги Диссертации
Сведения об ответственностиКурчатовский ин-т
Выходные данныеМосква, 1992
Физическое описание102 с. : ил.
BBK-кодВ379.221,03
В379.225,03
ЯзыкРусский
Места храненияOD 61 93-1/407