Вълков, Ивелин Цветанов - Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01

Карточка

Вълков, Ивелин Цветанов.
Вълков, Ивелин Цветанов.

Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т. - Санкт-Петербург, 1994. - 16 с.
Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
FB 9 94-1/2143-1
FB 9 94-1/2144-x

Документ в свободном доступе. Читать 

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеАппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01
Коллекции ЭБ Авторефераты
Дата поступления в ЭК 16.05.1994
Дата поступления в ЭБ 03.06.2008
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиС.-Петербург. гос. электротехн. ун-т
Выходные данныеСанкт-Петербург, 1994
Физическое описание16 с.
ТемаТвердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
BBK-кодЗ844.15-07с,0
Специальность05.27.01: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
ЯзыкРусский
Места храненияFB 9 94-1/2143-1
FB 9 94-1/2144-x
Электронный адрес Электронный ресурс