Вълков, Ивелин Цветанов. - Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т. - Санкт-Петербург, 1994. - 16 с.
Карточка
Экспресс-заказ фрагмента
Вълков, Ивелин Цветанов.
Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т. - Санкт-Петербург, 1994. - 16 с.
Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
Шифр хранения:
Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т. - Санкт-Петербург, 1994. - 16 с.
Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
Шифр хранения:
FB 9 94-1/2143-1
FB 9 94-1/2144-x
Описание
| Автор | Вълков, Ивелин Цветанов |
|---|---|
| Заглавие | Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 |
| Коллекции ЭК РГБ | Каталог авторефератов диссертаций |
| Коллекции ЭБ РГБ | Авторефераты |
| Дата поступления в ЭК РГБ | 16.05.1994 |
| Дата поступления в ЭБ РГБ | 03.06.2008 |
| Каталоги | Авторефераты диссертаций |
| Сведения об ответственности | С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т |
| Выходные данные | Санкт-Петербург, 1994 |
| Физическое описание | 16 с. |
| Тема | Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника |
| BBK-код | З844.15-07с,0 |
| Специальность | 05.27.01: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах |
| Язык | Русский |
| Места хранения | FB 9 94-1/2143-1 |
| FB 9 94-1/2144-x | |
| Электронный адрес | Электронный ресурс |
