Вълков, Ивелин Цветанов - Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01
Карточка
Экспресс-заказ фрагмента
Вълков, Ивелин Цветанов.
Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т. - Санкт-Петербург, 1994. - 16 с.
Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
Шифр хранения:
Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т. - Санкт-Петербург, 1994. - 16 с.
Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
Шифр хранения:
FB 9 94-1/2143-1
FB 9 94-1/2144-x
Описание
Автор | Вълков, Ивелин Цветанов |
---|---|
Заглавие | Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 |
Коллекции ЭК РГБ | Каталог авторефератов диссертаций |
Коллекции ЭБ РГБ | Авторефераты |
Дата поступления в ЭК РГБ | 16.05.1994 |
Дата поступления в ЭБ РГБ | 03.06.2008 |
Каталоги | Авторефераты диссертаций |
Сведения об ответственности | С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т |
Выходные данные | Санкт-Петербург, 1994 |
Физическое описание | 16 с. |
Тема | Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника |
BBK-код | З844.15-07с,0 |
Специальность | 05.27.01: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах |
Язык | Русский |
Места хранения | FB 9 94-1/2143-1 |
FB 9 94-1/2144-x | |
Электронный адрес | Электронный ресурс |