Климовский, Юрий Абрамович - Вторично-ионная масс-спектрометрия тонких поверхностных слоев и межфазных границ раздела металлов, полупроводников, высокотемпературных сверхпроводников и органических веществ : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04

Карточка

Климовский, Юрий Абрамович.

Вторично-ионная масс-спектрометрия тонких поверхностных слоев и межфазных границ раздела металлов, полупроводников, высокотемпературных сверхпроводников и органических веществ : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04 / АН УССР. Физ.-техн. ин-т низких температур. - Харьков, 1988. - 15 с.
Физическая электроника
FB 9 88-9/2681-1
FB 9 88-9/2682-Х

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеВторично-ионная масс-спектрометрия тонких поверхностных слоев и межфазных границ раздела металлов, полупроводников, высокотемпературных сверхпроводников и органических веществ : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04
Дата поступления в ЭК 09.12.1988
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиАН УССР. Физ.-техн. ин-т низких температур
Выходные данныеХарьков, 1988
Физическое описание15 с.
ТемаФизическая электроника
BBK-кодГ582.7,0
В333.13,03
В377.131,03
Специальность01.04.04: Физическая электроника
ЯзыкРусский
Места храненияFB 9 88-9/2681-1
FB 9 88-9/2682-Х