Айрапетян, Вачаган Каранович - Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01

Карточка

Айрапетян, Вачаган Каранович.
Айрапетян, Вачаган Каранович.

Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Всерос. электротехнич. ин-т. - Москва, 1994. - 28 с.
Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
FB 9 94-2/2789-2
FB 9 94-2/2790-6

Документ в свободном доступе. Читать 

Описание

Автор
ЗаглавиеИсследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01
Коллекции ЭБ Авторефераты
Дата поступления в ЭК 14.11.1994
Дата поступления в ЭБ 05.05.2008
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиВсерос. электротехнич. ин-т
Выходные данныеМосква, 1994
Физическое описание28 с.
ТемаТвердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
BBK-кодЗ264.545,0
Специальность05.27.01: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
ЯзыкРусский
Места храненияFB 9 94-2/2789-2
FB 9 94-2/2790-6
Электронный адрес Электронный ресурс

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Документ

Страница 1 / 1