Кауфман, Игорь Хаимович - Измерение оптических постоянных и дифференциальная спектроскопия тонких пленок : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04

Карточка

Кауфман, Игорь Хаимович.

Измерение оптических постоянных и дифференциальная спектроскопия тонких пленок : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04 / Всесоюз. н.-и. центр по изучению свойств поверхности и вакуума. - Москва, 1989. - 24 с.
Физическая электроника
FB 9 89-2/3916-7
FB 9 89-2/3917-5

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеИзмерение оптических постоянных и дифференциальная спектроскопия тонких пленок : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04
Дата поступления в ЭК 19.04.1989
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиВсесоюз. н.-и. центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Выходные данныеМосква, 1989
Физическое описание24 с.
ТемаФизическая электроника
BBK-кодВ379.247-6с25,03
Специальность01.04.04: Физическая электроника
ЯзыкРусский
Места храненияFB 9 89-2/3916-7
FB 9 89-2/3917-5