Кауфман, Игорь Хаимович. - Измерение оптических постоянных и дифференциальная спектроскопия тонких пленок : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04 / Всесоюз. н.-и. центр по изучению свойств поверхности и вакуума. - Москва, 1989. - 24 с.

Экспресс-заказ фрагмента
Кауфман, Игорь Хаимович.
Кауфман, Игорь Хаимович.
Измерение оптических постоянных и дифференциальная спектроскопия тонких пленок : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04 / Всесоюз. н.-и. центр по изучению свойств поверхности и вакуума. - Москва, 1989. - 24 с.

Физическая электроника
Шифр хранения:
FB 9 89-2/3916-7
FB 9 89-2/3917-5

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеИзмерение оптических постоянных и дифференциальная спектроскопия тонких пленок : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04
Коллекции ЭК РГБ Каталог авторефератов диссертаций
Коллекции ЭБ РГБ Авторефераты
Дата поступления в ЭК РГБ 19.04.1989
Дата поступления в ЭБ РГБ 01.06.2021
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиВсесоюз. н.-и. центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Выходные данныеМосква, 1989
Физическое описание24 с.
ТемаФизическая электроника
BBK-кодВ379.247-6с25,03
Специальность01.04.04: Физическая электроника
ЯзыкРусский
Места храненияFB 9 89-2/3916-7
FB 9 89-2/3917-5
Электронный адрес Электронный ресурс