Во Тан Лонг - Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10

Экспресс-заказ фрагмента
Во Тан Лонг.
Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10. - Санкт-Петербург, 1995. - 16 с.

Физика полупроводников и диэлектриков
Шифр хранения:
FB 9 95-1/2486-7
FB 9 95-1/2487-5

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеКоличественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог авторефератов диссертаций
Дата поступления в ЕЭК 29.06.1995
Каталоги Авторефераты диссертаций
Выходные данныеСанкт-Петербург, 1995
Физическое описание16 с.
ТемаФизика полупроводников и диэлектриков
BBK-кодВ379.221.3,03
Специальность01.04.10: Физика полупроводников
ЯзыкРусский
Места храненияFB 9 95-1/2486-7
FB 9 95-1/2487-5