Борщаговский, Евгений Григорьевич - Метод эллипсометрии в исследовании параметров тонких пленок и процессов, протекающих в молекулярных системах, адсорбированных на поверхности твердых тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10

Карточка

Борщаговский, Евгений Григорьевич.

Метод эллипсометрии в исследовании параметров тонких пленок и процессов, протекающих в молекулярных системах, адсорбированных на поверхности твердых тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 / МГУ им. М. В. Ломоносова. - Москва, 1991. - 16 с.
Физика полупроводников и диэлектриков
FB 9 91-5/1171-1
FB 9 91-5/1172-x

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеМетод эллипсометрии в исследовании параметров тонких пленок и процессов, протекающих в молекулярных системах, адсорбированных на поверхности твердых тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10
Дата поступления в ЭК 11.11.1991
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиМГУ им. М. В. Ломоносова
Выходные данныеМосква, 1991
Физическое описание16 с.
ТемаФизика полупроводников и диэлектриков
BBK-кодГ582.7,0
Специальность01.04.10: Физика полупроводников
ЯзыкРусский
Места храненияFB 9 91-5/1171-1
FB 9 91-5/1172-x