Борщаговский, Евгений Григорьевич - Метод эллипсометрии в исследовании параметров тонких пленок и процессов, протекающих в молекулярных системах, адсорбированных на поверхности твердых тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10
Карточка
Экспресс-заказ фрагмента
Борщаговский, Евгений Григорьевич.
Метод эллипсометрии в исследовании параметров тонких пленок и процессов, протекающих в молекулярных системах, адсорбированных на поверхности твердых тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 / МГУ им. М. В. Ломоносова. - Москва, 1991. - 16 с.
Физика полупроводников и диэлектриков
Шифр хранения:
Метод эллипсометрии в исследовании параметров тонких пленок и процессов, протекающих в молекулярных системах, адсорбированных на поверхности твердых тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 / МГУ им. М. В. Ломоносова. - Москва, 1991. - 16 с.
Физика полупроводников и диэлектриков
Шифр хранения:
FB 9 91-5/1171-1
FB 9 91-5/1172-x
Описание
Автор | Борщаговский, Евгений Григорьевич |
---|---|
Заглавие | Метод эллипсометрии в исследовании параметров тонких пленок и процессов, протекающих в молекулярных системах, адсорбированных на поверхности твердых тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 |
Коллекции ЭК РГБ | Каталог авторефератов диссертаций |
Дата поступления в ЭК РГБ | 11.11.1991 |
Каталоги | Авторефераты диссертаций |
Сведения об ответственности | МГУ им. М. В. Ломоносова |
Выходные данные | Москва, 1991 |
Физическое описание | 16 с. |
Тема | Физика полупроводников и диэлектриков |
BBK-код | Г582.7,0 |
Специальность | 01.04.10: Физика полупроводников |
Язык | Русский |
Места хранения | FB 9 91-5/1171-1 |
FB 9 91-5/1172-x |