Золотухина, Ольга Михайловна - Причины разрушения кремниевых кристаллов БИС после монтажа в металлокерамические корпуса с применением золото-кремниевой эвтектики и их устранение : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01

Карточка

Золотухина, Ольга Михайловна.

Причины разрушения кремниевых кристаллов БИС после монтажа в металлокерамические корпуса с применением золото-кремниевой эвтектики и их устранение : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Политехн. ин-т. - Воронеж, 1992. - 15 с.
Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
FB 9 92-1/1661-0
FB 9 92-1/1662-9

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеПричины разрушения кремниевых кристаллов БИС после монтажа в металлокерамические корпуса с применением золото-кремниевой эвтектики и их устранение : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01
Дата поступления в ЭК 25.03.1992
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиПолитехн. ин-т
Выходные данныеВоронеж, 1992
Физическое описание15 с.
ТемаТвердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
BBK-кодЗ844.15-060.8-7,0
Специальность05.27.01: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
ЯзыкРусский
Места храненияFB 9 92-1/1661-0
FB 9 92-1/1662-9