Кузнецов, Григорий Федотович - Количественная рентгенотопография дефектов и дифрактометрия многослойных эпитаксиальных систем полупроводников AIII BV , AII BVI и твердых растворов на их основе : автореферат дис. ... доктора физико-математических наук : 01.04.10

Карточка

Кузнецов, Григорий Федотович.

Количественная рентгенотопография дефектов и дифрактометрия многослойных эпитаксиальных систем полупроводников AIII BV , AII BVI и твердых растворов на их основе : автореферат дис. ... доктора физико-математических наук : 01.04.10 / АН СССР. Ин-т радиотехники и электроники. - Москва, 1990. - 47 с.
Физика полупроводников и диэлектриков
FB 9 90-5/3161-2
FB 9 90-5/3162-0

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеКоличественная рентгенотопография дефектов и дифрактометрия многослойных эпитаксиальных систем полупроводников AIII BV , AII BVI и твердых растворов на их основе : автореферат дис. ... доктора физико-математических наук : 01.04.10
Дата поступления в ЭК 07.08.1990
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиАН СССР. Ин-т радиотехники и электроники
Выходные данныеМосква, 1990
Физическое описание47 с
ТемаФизика полупроводников и диэлектриков
BBK-кодВ379.271.5-6с1,03
Специальность01.04.10: Физика полупроводников
ЯзыкРусский
Места храненияFB 9 90-5/3161-2
FB 9 90-5/3162-0