Радаев, Александр Анатольевич. - Разработка статистического метода контроля дефектности рабочих пластин на основе моделирования выхода годных и его применение при анализе и прогнозировании производства изделий микроэлектроники : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Моск. энерг. ин-т. - Москва, 1994. - 20 с.
Карточка
        Экспресс-заказ фрагмента    
                    Радаев, Александр Анатольевич.
            
Разработка статистического метода контроля дефектности рабочих пластин на основе моделирования выхода годных и его применение при анализе и прогнозировании производства изделий микроэлектроники : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Моск. энерг. ин-т. - Москва, 1994. - 20 с.
                        
Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
Шифр хранения:
Разработка статистического метода контроля дефектности рабочих пластин на основе моделирования выхода годных и его применение при анализе и прогнозировании производства изделий микроэлектроники : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Моск. энерг. ин-т. - Москва, 1994. - 20 с.
Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
Шифр хранения:
            FB 9 94-3/1109-5
                        
            
            FB 9 94-3/1110-9
                        
            
                    
        
    Описание
| Автор | Радаев, Александр Анатольевич | 
|---|---|
| Заглавие | Разработка статистического метода контроля дефектности рабочих пластин на основе моделирования выхода годных и его применение при анализе и прогнозировании производства изделий микроэлектроники : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 | 
| Коллекции ЭК РГБ | Каталог авторефератов диссертаций | 
| Коллекции ЭБ РГБ | Авторефераты | 
| Дата поступления в ЭК РГБ | 13.02.1995 | 
| Дата поступления в ЭБ РГБ | 06.05.2008 | 
| Каталоги | Авторефераты диссертаций | 
| Сведения об ответственности | Моск. энерг. ин-т | 
| Выходные данные | Москва, 1994 | 
| Физическое описание | 20 с. | 
| Тема | Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника | 
| BBK-код | З844.1-06-7с114,0 | 
| Специальность | 05.27.01: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах | 
| Язык | Русский | 
| Места хранения | FB 9 94-3/1109-5 | 
| FB 9 94-3/1110-9 | |
| Электронный адрес | Электронный ресурс | 
 
                        