Мурин, Дмитрий Игоревич - Диагностика крупномасштабных примесных скоплений в полупроводниках и анализ таких скоплений в кремнии, выращенном методом Чохральского : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10

Карточка

Мурин, Дмитрий Игоревич.

Диагностика крупномасштабных примесных скоплений в полупроводниках и анализ таких скоплений в кремнии, выращенном методом Чохральского : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10. - Москва, 1996. - 129 с.
Физика полупроводников и диэлектриков
полупроводники
кремний
метод Чохральского
OD 61 97-1/253-X

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеДиагностика крупномасштабных примесных скоплений в полупроводниках и анализ таких скоплений в кремнии, выращенном методом Чохральского : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10
Дата поступления в ЭК 09.06.1997
Каталоги Диссертации
Выходные данныеМосква, 1996
Физическое описание129 с.
ТемаФизика полупроводников и диэлектриков
полупроводники
кремний
метод Чохральского
BBK-кодВ379.222,03
Специальность01.04.10: Физика полупроводников
ЯзыкРусский
Места храненияOD 61 97-1/253-X