Панин, Геннадий Николаевич - Исследование электрически активных дефектов в кристаллах Cd x Hg1-x Te методами растровой электронной микроскопии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 05.27.01

Экспресс-заказ фрагмента
Панин, Геннадий Николаевич.
Исследование электрически активных дефектов в кристаллах Cd x Hg1-x Te методами растровой электронной микроскопии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 05.27.01. - Черноголовка, 1994. - 177 с. : ил.

Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
Шифр хранения:
OD 61 94-1/432-1

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеИсследование электрически активных дефектов в кристаллах Cd x Hg1-x Te методами растровой электронной микроскопии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 05.27.01
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог диссертаций
Дата поступления в ЭК 05.04.1999
Каталоги Диссертации
Выходные данныеЧерноголовка, 1994
Физическое описание177 с. : ил.
ТемаТвердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
BBK-кодВ379.222с1,03
Специальность05.27.01: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
ЯзыкРусский
Места храненияOD 61 94-1/432-1