Эльгарт, Зиновий Эльевич - Балансно-двухволновой метод контроля оптических толщин слоев : Исследование возможностей метода при изготовлении интерференционных покрытий : диссертация ... кандидата технических наук : 05.11.07

Карточка

Эльгарт, Зиновий Эльевич.
Эльгарт, Зиновий Эльевич.
Балансно-двухволновой метод контроля оптических толщин слоев : Исследование возможностей метода при изготовлении интерференционных покрытий : диссертация ... кандидата технических наук : 05.11.07. - Санкт-Петербург, 1998. - 217 с. : ил.

Оптические и оптико-электронные приборы
Шифр хранения:
OD 61 99-5/1306-3
Документ охраняется авторским правом. Полный текст доступен в РГБ и виртуальных читальных залах. Читать Электронный заказ

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеБалансно-двухволновой метод контроля оптических толщин слоев : Исследование возможностей метода при изготовлении интерференционных покрытий : диссертация ... кандидата технических наук : 05.11.07
Коллекции ЭБ Диссертации
Дата поступления в ЭК 13.10.1999
Дата поступления в ЭБ 23.04.2003
Каталоги Диссертации
Выходные данныеСанкт-Петербург, 1998
Физическое описание217 с. : ил.
ТемаОптические и оптико-электронные приборы
Специальность05.11.07: Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы
ЯзыкРусский
Места храненияOD 61 99-5/1306-3
Электронный адрес Электронный ресурс