Каргин, Николай Михайлович - Разработка измерительных программ для ИС К174 с применением методов электрофизического диагностирования в условиях массового производства : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01

Карточка

Каргин, Николай Михайлович.
Каргин, Николай Михайлович.

Разработка измерительных программ для ИС К174 с применением методов электрофизического диагностирования в условиях массового производства : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01. - Саранск, 1998. - 164 с.
Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
OD 61 99-5/1764-6

Документ охраняется авторским правом. Полный текст доступен в РГБ и виртуальных читальных залах. Читать 

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеРазработка измерительных программ для ИС К174 с применением методов электрофизического диагностирования в условиях массового производства : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01
Коллекции ЭБ Диссертации
Дата поступления в ЭК 19.11.1999
Дата поступления в ЭБ 25.10.2014
Каталоги Диссертации
Выходные данныеСаранск, 1998
Физическое описание164 с.
ТемаТвердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
Специальность05.27.01: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
ЯзыкРусский
Места храненияOD 61 99-5/1764-6
Электронный адрес Электронный ресурс