Боргардт, Николай Иванович. - Электронная микроскопия полупроводников с учетом реальных закономерностей освещения образца и рассеяния электронов : автореферат дис. ... доктора физико-математических наук : 01.04.10. - Москва, 1999. - 17 с.

Экспресс-заказ фрагмента
Боргардт, Николай Иванович.
Электронная микроскопия полупроводников с учетом реальных закономерностей освещения образца и рассеяния электронов : автореферат дис. ... доктора физико-математических наук : 01.04.10. - Москва, 1999. - 17 с.

Физика полупроводников и диэлектриков
Шифр хранения:
FB 9 03-2/719-1

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеЭлектронная микроскопия полупроводников с учетом реальных закономерностей освещения образца и рассеяния электронов : автореферат дис. ... доктора физико-математических наук : 01.04.10
Коллекции ЭК РГБ Каталог авторефератов диссертаций
Дата поступления в ЭК РГБ 23.12.1999
Каталоги Авторефераты диссертаций
Выходные данныеМосква, 1999
Физическое описание17 с.
ТемаФизика полупроводников и диэлектриков
BBK-кодВ372.15,03
В379.221.5,03
Специальность01.04.10: Физика полупроводников
ЯзыкРусский
Места храненияFB 9 03-2/719-1