Во Тан Лонг - Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10

Карточка

Во Тан Лонг.
Во Тан Лонг.

Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 / Во Тан Лонг; [Место защиты: Санкт-Петербургский гос. электротехн. ун-т им. В. И. Ульянова (Ленина)]. - Санкт-Петербург, 1995. - 14 c. : ил.
Физика полупроводников и диэлектриков

Документ в свободном доступе. Читать 

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеКоличественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10
Коллекции ЭБ Авторефераты
Дата поступления в ЭК 29.04.2008
Дата поступления в ЭБ 28.04.2008
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиВо Тан Лонг; [Место защиты: Санкт-Петербургский гос. электротехн. ун-т им. В. И. Ульянова (Ленина)]
Выходные данныеСанкт-Петербург, 1995
Физическое описание14 c. : ил.
ТемаФизика полупроводников и диэлектриков
Специальность01.04.10: Физика полупроводников
ЯзыкРусский
Электронный адрес Электронный ресурс