Варданян, Рубен Рафаелович - Исследование и разработка методов и устройств контроля параметров полупроводниковых структур и приборов : диссертация ... доктора технических наук : 05.13.05

Экспресс-заказ фрагмента
Варданян, Рубен Рафаелович.
Исследование и разработка методов и устройств контроля параметров полупроводниковых структур и приборов : диссертация ... доктора технических наук : 05.13.05. - Ереван, 1993. - 204 с. : ил.

Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления
Шифр хранения:
OD 71 94-5/84-6

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеИсследование и разработка методов и устройств контроля параметров полупроводниковых структур и приборов : диссертация ... доктора технических наук : 05.13.05
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог диссертаций
Дата поступления в ЕЭК 12.07.2000
Каталоги Диссертации
Выходные данныеЕреван, 1993
Физическое описание204 с. : ил.
ТемаЭлементы и устройства вычислительной техники и систем управления
BBK-кодЗ852-07с108,0
Специальность05.13.05: Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления
ЯзыкРусский
Места храненияOD 71 94-5/84-6