Шелковников, Евгений Юрьевич. - Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : диссертация ... кандидата технических наук : 05.11.13. - Ижевск, 2000. - 177 с. : ил.

Экспресс-заказ фрагмента
Шелковников, Евгений Юрьевич.
Шелковников, Евгений Юрьевич.
Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : диссертация ... кандидата технических наук : 05.11.13. - Ижевск, 2000. - 177 с. : ил.

Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий
Шифр хранения:
OD 61 01-5/1887

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеИсследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : диссертация ... кандидата технических наук : 05.11.13
Коллекции ЭК РГБ Каталог диссертаций
Коллекции ЭБ РГБ Диссертации
Дата поступления в ЭК РГБ 14.03.2001
Дата поступления в ЭБ РГБ 26.05.2011
Каталоги Диссертации
Выходные данныеИжевск, 2000
Физическое описание177 с. : ил.
ТемаПриборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий
BBK-кодГ582с3,0
Г615с3,0
Специальность05.11.13: Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий
ЯзыкРусский
Места храненияOD 61 01-5/1887
Электронный адрес Электронный ресурс