Prace naukowe. Inżynieria materiałowa / Politech. warszawska

Карточка

Politechnika warszawska.

Prace naukowe. Inżynieria materiałowa / Politech. warszawska. - Warszawa : Oficyna wydaw. Politech. warszawskiej, 1995-. - 24 см.
Z. 11: Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw i małych cząstek / Krzysztof Sikorski. - Warszawa : Oficyna wydaw. Politech. warszawskiej, 2000. - 106, [2] с. : ил., табл.; 24 см.; ISSN 1234-5229

Z. 11: Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw i małych cząstek / Krzysztof Sikorski. - Warszawa : Oficyna wydaw. Politech. warszawskiej, 2000. - 106, [2] с. : ил., табл.; 24 см
Рез. пол., англ.
Описано по обл. На тит.л. только загл. сер.
Отделка поверхности -- Нанесение покрытий -- Анализ -- Рентгеновские методы
FB 26 18/73-X

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

ЗаглавиеPrace naukowe. Inżynieria materiałowa / Politech. warszawska
Дата поступления в ЭК 04.07.2000
Каталоги Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время)
Выходные данныеWarszawa : Oficyna wydaw. Politech. warszawskiej, 1995-
Физическое описание24 см
ТомZ. 11: Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw i małych cząstek / Krzysztof Sikorski. - Warszawa : Oficyna wydaw. Politech. warszawskiej, 2000. - 106, [2] с. : ил., табл.; 24 см
ISSNISSN 1234-5229
ПримечаниеРез. пол., англ.
Описано по обл. На тит.л. только загл. сер.
ТемаОтделка поверхности -- Нанесение покрытий -- Анализ -- Рентгеновские методы
BBK-кодЖ671-1с383,0
ЯзыкПольский
Места храненияFB 26 18/73-X