Defects and properties of semiconductors : Defect engineering

Карточка

Defects and properties of semiconductors : Defect engineering / Ed. by J.Chikawa et al. - Tokyo : KTK sci. publ. ; Dordrecht etc. : Reidel, Cop. 1987. - VI, 261 с. : ил.; 23 см.; ISBN 90-277-2352-4
FB 5:90-31/1-5

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

ЗаглавиеDefects and properties of semiconductors : Defect engineering
Дата поступления в ЭК 04.10.1990
Каталоги Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время)
Сведения об ответственностиEd. by J.Chikawa et al.
Выходные данныеTokyo : KTK sci. publ. ; Dordrecht etc. : Reidel, Cop. 1987
Физическое описаниеVI, 261 с. : ил.; 23 см
ISBNISBN 90-277-2352-4
BBK-кодЗ843.306я431(5Я)
ЯзыкАнглийский
Места храненияFB 5:90-31/1-5