Defects and properties of semiconductors : Defect engineering

Экспресс-заказ фрагмента
Defects and properties of semiconductors : Defect engineering / Ed. by J.Chikawa et al. - Tokyo : KTK sci. publ. ; Dordrecht etc. : Reidel, Cop. 1987. - VI, 261 с. : ил.; 23 см.; ISBN 90-277-2352-4

Шифр хранения:
FB 5 90-31/1-5

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

ЗаглавиеDefects and properties of semiconductors : Defect engineering
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог документов с 1831 по настоящее время
Дата поступления в ЕЭК 04.10.1990
Каталоги Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время)
Сведения об ответственностиEd. by J.Chikawa et al.
Выходные данныеTokyo : KTK sci. publ. ; Dordrecht etc. : Reidel, Cop. 1987
Физическое описаниеVI, 261 с. : ил.; 23 см
ISBNISBN 90-277-2352-4
BBK-кодЗ843.306я431(5Я)
ЯзыкАнглийский
Места храненияFB 5 90-31/1-5