Staňo, J. - Charge deep level transient spectroscopy study of 3:-7 MEV/AMU ion and fast neutron irradiation-induced changes in mos structures /

Карточка

Staňo, J.

Charge deep level transient spectroscopy study of 3:-7 MEV/AMU ion and fast neutron irradiation-induced changes in mos structures / J. Staňo, V. A. Skuratov, M. Žiška. - Дубна : Объед. ин-т ядер. исслед., 2001. - 11 с. : ил.; 21 см. - (Сообщения Объединенного института ядерных исследований, Дубна; E7-2001-37).
(Сообщения Объединенного института ядерных исследований, Дубна; E7-2001-37)
Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела -- Физика полупроводников -- Электрические свойства полупроводников -- Электрические явления при контакте полупроводников с металлами и диэлектриками -- Методы исследования
Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела -- Физика полупроводников -- Структура полупроводников -- Радиационные эффекты в полупроводниках
FB 3 01-19/1586-5

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеCharge deep level transient spectroscopy study of 3:-7 MEV/AMU ion and fast neutron irradiation-induced changes in mos structures /
Дата поступления в ЭК 06.09.2001
Каталоги Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время)
Сведения об ответственностиJ. Staňo, V. A. Skuratov, M. Žiška
Выходные данныеДубна : Объед. ин-т ядер. исслед., 2001
Физическое описание11 с. : ил.; 21 см
Серия(Сообщения Объединенного института ядерных исследований, Дубна; E7-2001-37)
ТемаФизико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела -- Физика полупроводников -- Электрические свойства полупроводников -- Электрические явления при контакте полупроводников с металлами и диэлектриками -- Методы исследования
Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела -- Физика полупроводников -- Структура полупроводников -- Радиационные эффекты в полупроводниках
BBK-кодВ379.271.5с1,09
В379.227,09
ЯзыкАнглийский
Места храненияFB 3 01-19/1586-5