Определение структурных слоев полупроводниковых детекторов с помощью заряженных частиц

Экспресс-заказ фрагмента
Определение структурных слоев полупроводниковых детекторов с помощью заряженных частиц / М. Г. Горнов, Ю. Б. Гуров, П. В. Морохов и др. - Дубна : ОИЯИ, 1982. - 7 с. : граф.; 22 см. - (Препринт. / Объед. ин-т ядер. исслед. 13-82-350; ;).

(Препринт. / Объед. ин-т ядер. исслед. 13-82-350; ;)
Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые
Шифр хранения:
FB XXV 13/49

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

ЗаглавиеОпределение структурных слоев полупроводниковых детекторов с помощью заряженных частиц
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог документов с 1831 по настоящее время
Дата поступления в ЕЭК 27.02.2002
Каталоги Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время)
Сведения об ответственностиМ. Г. Горнов, Ю. Б. Гуров, П. В. Морохов и др.
Выходные данныеДубна : ОИЯИ, 1982
Физическое описание7 с. : граф.; 22 см.
Серия(Препринт. / Объед. ин-т ядер. исслед. 13-82-350; ;)
ТемаДетекторы ионизирующих излучений полупроводниковые
ЯзыкРусский
Места храненияFB XXV 13/49