Измерение модуля Юнга и внутреннего трения слоистых полупроводников в интервале температур 5-300 К

Экспресс-заказ фрагмента
Измерение модуля Юнга и внутреннего трения слоистых полупроводников в интервале температур 5-300 К / [И. К. Нейманзаде, Р. А. Сулейманов, М. Ю. Сеидов и др.]; ...Лаб. полупроводниковой квантовой электрон. - Баку : ИФАН АзССР, 1988. - 22 с. : ил.; 20 см. - (Препр. АН АзССР, Ин-т физики, ISSN N 275).

(Препр. АН АзССР, Ин-т физики, ISSN N 275)
Авт. указаны на обл.
Полупроводники слоистые - Модуль упругости - Зависимость от температуры
Полупроводники слоистые - Трение внутреннее - Зависимость от температуры
Шифр хранения:
FB 2 88-10/481

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

ЗаглавиеИзмерение модуля Юнга и внутреннего трения слоистых полупроводников в интервале температур 5-300 К
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог документов с 1831 по настоящее время
Дата поступления в ЕЭК 27.02.2002
Каталоги Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время)
Сведения об ответственности[И. К. Нейманзаде, Р. А. Сулейманов, М. Ю. Сеидов и др.]; ...Лаб. полупроводниковой квантовой электрон.
Выходные данныеБаку : ИФАН АзССР, 1988
Физическое описание22 с. : ил.; 20 см
Серия(Препр. АН АзССР, Ин-т физики, ISSN N 275)
ПримечаниеАвт. указаны на обл.
ТемаПолупроводники слоистые - Модуль упругости - Зависимость от температуры
Полупроводники слоистые - Трение внутреннее - Зависимость от температуры
ЯзыкРусский
Места храненияFB 2 88-10/481