Фельдман, Леонард К. - Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого. - Москва : Мир, 1989. - 342 с. : ил.; 22 см.; ISBN 5-03-001017-3 (В пер.) : 3 р. 70 к.
Карточка
Экспресс-заказ фрагмента
Фельдман, Леонард К.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого. - Москва : Мир, 1989. - 342 с. : ил.; 22 см.; ISBN 5-03-001017-3 (В пер.) : 3 р. 70 к.
Поверхностные слои - Ядерно-физический анализ
Пленки тонкие - Ядерно-физический анализ
Шифр хранения:
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого. - Москва : Мир, 1989. - 342 с. : ил.; 22 см.; ISBN 5-03-001017-3 (В пер.) : 3 р. 70 к.
Поверхностные слои - Ядерно-физический анализ
Пленки тонкие - Ядерно-физический анализ
Шифр хранения:
FB 1 89-38/181
FB 1 89-38/180
CPF В371.2/Ф37
Описание
Автор | Фельдман, Леонард К. |
---|---|
Заглавие | Основы анализа поверхности и тонких пленок |
Коллекции ЭК РГБ | Каталог документов с 1831 по настоящее время |
Дата поступления в ЭК РГБ | 27.02.2002 |
Каталоги | Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время) |
Сведения об ответственности | Л. Фелдман, Д. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого |
Выходные данные | Москва : Мир, 1989 |
Физическое описание | 342 с. : ил.; 22 см |
ISBN | ISBN 5-03-001017-3 (В пер.) : 3 р. 70 к. |
Термины-указатели | Поверхностные слои - Ядерно-физический анализ |
Пленки тонкие - Ядерно-физический анализ | |
Язык | Русский |
Места хранения | FB 1 89-38/181 |
FB 1 89-38/180 | |
CPF В371.2/Ф37 |