Фельдман, Леонард К. - Основы анализа поверхности и тонких пленок

Экспресс-заказ фрагмента
Фельдман, Леонард К.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого. - Москва : Мир, 1989. - 342 с. : ил.; 22 см.; ISBN 5-03-001017-3 (В пер.) : 3 р. 70 к.

Поверхностные слои - Ядерно-физический анализ
Пленки тонкие - Ядерно-физический анализ
Шифр хранения:
FB 1 89-38/181
FB 1 89-38/180
CPF В371.2/Ф37

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеОсновы анализа поверхности и тонких пленок
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог документов с 1831 по настоящее время
Дата поступления в ЕЭК 27.02.2002
Каталоги Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время)
Сведения об ответственностиЛ. Фелдман, Д. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого
Выходные данныеМосква : Мир, 1989
Физическое описание342 с. : ил.; 22 см
ISBNISBN 5-03-001017-3 (В пер.) : 3 р. 70 к.
ТемаПоверхностные слои - Ядерно-физический анализ
Пленки тонкие - Ядерно-физический анализ
ЯзыкРусский
Места храненияFB 1 89-38/181
FB 1 89-38/180
CPF В371.2/Ф37