Фельдман, Леонард К. - Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого. - Москва : Мир, 1989. - 342 с. : ил.; 22 см.; ISBN 5-03-001017-3 : 3 р. 70 к.
Карточка
Экспресс-заказ фрагмента
Фельдман, Леонард К.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого. - Москва : Мир, 1989. - 342 с. : ил.; 22 см.; ISBN 5-03-001017-3 : 3 р. 70 к.
Поверхностные слои - Ядерно-физический анализ
Пленки тонкие - Ядерно-физический анализ
Шифр хранения:
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого. - Москва : Мир, 1989. - 342 с. : ил.; 22 см.; ISBN 5-03-001017-3 : 3 р. 70 к.
Поверхностные слои - Ядерно-физический анализ
Пленки тонкие - Ядерно-физический анализ
Шифр хранения:
FB 1 89-38/181
FB 1 89-38/180
CPF В37/Ф37
Описание
| Автор | Фельдман, Леонард К. |
|---|---|
| Заглавие | Основы анализа поверхности и тонких пленок |
| Коллекции ЭК РГБ | Каталог документов с 1831 по настоящее время |
| Дата поступления в ЭК РГБ | 27.02.2002 |
| Каталоги | Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время) |
| Сведения об ответственности | Л. Фелдман, Д. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого |
| Выходные данные | Москва : Мир, 1989 |
| Физическое описание | 342 с. : ил.; 22 см |
| ISBN | ISBN 5-03-001017-3 : 3 р. 70 к. |
| Термины-указатели | Поверхностные слои - Ядерно-физический анализ |
| Пленки тонкие - Ядерно-физический анализ | |
| Язык | Русский |
| Места хранения | FB 1 89-38/181 |
| FB 1 89-38/180 | |
| CPF В37/Ф37 |
