Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах = Noise and degradation processes in semiconductor devices : (Метрология, диагностика, технология) : Материалы докл. науч.-техн. семинара (Москва, 17-20 нояб. 1997 г.)
Карточка
Экспресс-заказ фрагмента
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах = Noise and degradation processes in semiconductor devices : (Метрология, диагностика, технология) : Материалы докл. науч.-техн. семинара (Москва, 17-20 нояб. 1997 г.) / Предисл. А. М. Гуляева, А. С. Врачева. - Москва : МНТОРЭС : МЭИ, 1998. - 508 с. : ил.; 20 см.
Парал. загл.: Noise and degradation processes in semiconductor devices.
В надзаг.: Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи им. А. С. Попова, Рос. фонд фундам. исслед., М-во общ. и проф. образования Рос. Федерации, Моск. энергет. ин-т
Рез. докл.: англ.
Полупроводниковые приборы - Шумы
Полупроводниковые приборы - Надежность
Шифр хранения:
Парал. загл.: Noise and degradation processes in semiconductor devices.
В надзаг.: Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи им. А. С. Попова, Рос. фонд фундам. исслед., М-во общ. и проф. образования Рос. Федерации, Моск. энергет. ин-т
Рез. докл.: англ.
Полупроводниковые приборы - Шумы
Полупроводниковые приборы - Надежность
Шифр хранения:
FB 2 98-9/280
FB 2 98-9/281
Описание
Заглавие | Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах = Noise and degradation processes in semiconductor devices : (Метрология, диагностика, технология) : Материалы докл. науч.-техн. семинара (Москва, 17-20 нояб. 1997 г.) |
---|---|
Коллекции ЭК РГБ | Каталог документов с 1831 по настоящее время |
Дата поступления в ЭК РГБ | 27.02.2002 |
Каталоги | Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время) |
Сведения об ответственности | Предисл. А. М. Гуляева, А. С. Врачева |
Выходные данные | Москва : МНТОРЭС : МЭИ, 1998 |
Физическое описание | 508 с. : ил.; 20 см |
Термины-указатели | Полупроводниковые приборы - Шумы |
Полупроводниковые приборы - Надежность | |
Общие примечания | Парал. загл.: Noise and degradation processes in semiconductor devices. |
В надзаг.: Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи им. А. С. Попова, Рос. фонд фундам. исслед., М-во общ. и проф. образования Рос. Федерации, Моск. энергет. ин-т | |
Рез. докл.: англ. | |
Язык | Русский |
Места хранения | FB 2 98-9/280 |
FB 2 98-9/281 |