Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах = Noise and degradation processes in semiconductor devices : (Метрология, диагностика, технология) : Материалы докл. науч.-техн. семинара (Москва, 17-20 нояб. 1997 г.)

Экспресс-заказ фрагмента
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах = Noise and degradation processes in semiconductor devices : (Метрология, диагностика, технология) : Материалы докл. науч.-техн. семинара (Москва, 17-20 нояб. 1997 г.) / Предисл. А. М. Гуляева, А. С. Врачева. - Москва : МНТОРЭС : МЭИ, 1998. - 508 с. : ил.; 20 см.

Парал. загл.: Noise and degradation processes in semiconductor devices.
В надзаг.: Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи им. А. С. Попова, Рос. фонд фундам. исслед., М-во общ. и проф. образования Рос. Федерации, Моск. энергет. ин-т
Рез. докл.: англ.
Полупроводниковые приборы - Шумы
Полупроводниковые приборы - Надежность
Шифр хранения:
FB 2 98-9/280
FB 2 98-9/281

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

ЗаглавиеШумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах = Noise and degradation processes in semiconductor devices : (Метрология, диагностика, технология) : Материалы докл. науч.-техн. семинара (Москва, 17-20 нояб. 1997 г.)
Коллекции ЭК РГБ Каталог документов с 1831 по настоящее время
Дата поступления в ЭК РГБ 27.02.2002
Каталоги Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время)
Сведения об ответственностиПредисл. А. М. Гуляева, А. С. Врачева
Выходные данныеМосква : МНТОРЭС : МЭИ, 1998
Физическое описание508 с. : ил.; 20 см
Термины-указателиПолупроводниковые приборы - Шумы
Полупроводниковые приборы - Надежность
Общие примечанияПарал. загл.: Noise and degradation processes in semiconductor devices.
В надзаг.: Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи им. А. С. Попова, Рос. фонд фундам. исслед., М-во общ. и проф. образования Рос. Федерации, Моск. энергет. ин-т
Рез. докл.: англ.
ЯзыкРусский
Места храненияFB 2 98-9/280
FB 2 98-9/281