Анфалова, Елена Сергеевна - Методы измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по специальности 202100 "Нанотехнология в электронике"

Анфалова, Елена Сергеевна.
Экспресс-заказ фрагмента
Анфалова, Елена Сергеевна.
Методы измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по специальности 202100 "Нанотехнология в электронике" / Анфалова Е. С.; Министерство образования и науки Российской Федерации, Федеральное агентство по образованию, Московский гос. ин-т электронной техники (Технический ун-т). - Москва : МИЭТ, 2005 (М. : Тип. ИПК МИЭТ). - 148 с. : ил., табл.; 20 см.; ISBN 5-7256-0401-2

Радиоэлектроника -- Радиотехника -- Радиотехнические материалы и изделия -- Полупроводниковые материалы -- Методы исследований -- Учебник для высшей школы
Шифр хранения:
FB 2 06-40/14

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеМетоды измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по специальности 202100 "Нанотехнология в электронике"
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог документов с 1831 по настоящее время
Коллекции ЭБ
Дата поступления в ЕЭК 19.07.2006
Дата поступления в ЭБ 02.11.2016
Каталоги Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время)
Сведения об ответственностиАнфалова Е. С.; Министерство образования и науки Российской Федерации, Федеральное агентство по образованию, Московский гос. ин-т электронной техники (Технический ун-т)
Выходные данныеМосква : МИЭТ, 2005 (М. : Тип. ИПК МИЭТ)
Физическое описание148 с. : ил., табл.; 20 см
ISBNISBN 5-7256-0401-2
ТемаРадиоэлектроника -- Радиотехника -- Радиотехнические материалы и изделия -- Полупроводниковые материалы -- Методы исследований -- Учебник для высшей школы
BBK-кодЗ843.3-1с.я73-1
ЯзыкРусский
Места храненияFB 2 06-40/14
Электронный адрес Электронный ресурс