Ломов, Андрей Александрович - Развитие рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии высокого разрешения для исследования многослойных гетероструктур : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.10

Ломов, Андрей Александрович.
Экспресс-заказ фрагмента
Ломов, Андрей Александрович.
Развитие рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии высокого разрешения для исследования многослойных гетероструктур : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.10. - Москва, 2006. - 369 с. : ил.

Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Физика полупроводников -- Структурный анализ полупроводников
Физико-математические науки -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Геометрическая кристаллография -- Оптические методы -- Рентгеновский метод (метод углов Брэгга)
Радиотехника -- Радиотехнические материалы и изделия -- Полупроводниковые материалы -- Строение -- Рентгеновские методы исследований
Физика полупроводников
Шифр хранения:
OD 71 07-1/51

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеРазвитие рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии высокого разрешения для исследования многослойных гетероструктур : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.10
Коллекции ЭК РГБ Каталог диссертаций
Коллекции ЭБ РГБ Диссертации
Дата поступления в ЭК РГБ 13.04.2006
Дата поступления в ЭБ РГБ 22.11.2008
Каталоги Диссертации
Выходные данныеМосква, 2006
Физическое описание369 с. : ил.
ТемаФизико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Физика полупроводников -- Структурный анализ полупроводников
Физико-математические науки -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Геометрическая кристаллография -- Оптические методы -- Рентгеновский метод (метод углов Брэгга)
Радиотехника -- Радиотехнические материалы и изделия -- Полупроводниковые материалы -- Строение -- Рентгеновские методы исследований
Физика полупроводников
BBK-кодВ379.221,03
В372.212.1,03
З843.304-1с383,0
Специальность01.04.10: Физика полупроводников
ЯзыкРусский
Места храненияOD 71 07-1/51
Электронный адрес Электронный ресурс