Ломов, Андрей Александрович - Развитие рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии высокого разрешения для исследования многослойных гетероструктур : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.10
Карточка
Экспресс-заказ фрагмента
Ломов, Андрей Александрович.
Развитие рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии высокого разрешения для исследования многослойных гетероструктур : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.10. - Москва, 2006. - 369 с. : ил.
Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Физика полупроводников -- Структурный анализ полупроводников
Физико-математические науки -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Геометрическая кристаллография -- Оптические методы -- Рентгеновский метод (метод углов Брэгга)
Радиотехника -- Радиотехнические материалы и изделия -- Полупроводниковые материалы -- Строение -- Рентгеновские методы исследований
Физика полупроводников
Шифр хранения:
Развитие рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии высокого разрешения для исследования многослойных гетероструктур : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.10. - Москва, 2006. - 369 с. : ил.
Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Физика полупроводников -- Структурный анализ полупроводников
Физико-математические науки -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Геометрическая кристаллография -- Оптические методы -- Рентгеновский метод (метод углов Брэгга)
Радиотехника -- Радиотехнические материалы и изделия -- Полупроводниковые материалы -- Строение -- Рентгеновские методы исследований
Физика полупроводников
Шифр хранения:
OD 71 07-1/51
Описание
Автор | Ломов, Андрей Александрович |
---|---|
Заглавие | Развитие рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии высокого разрешения для исследования многослойных гетероструктур : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.10 |
Коллекции ЭК РГБ | Каталог диссертаций |
Коллекции ЭБ РГБ | Диссертации |
Дата поступления в ЭК РГБ | 13.04.2006 |
Дата поступления в ЭБ РГБ | 22.11.2008 |
Каталоги | Диссертации |
Выходные данные | Москва, 2006 |
Физическое описание | 369 с. : ил. |
Тема | Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Физика полупроводников -- Структурный анализ полупроводников |
Физико-математические науки -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Геометрическая кристаллография -- Оптические методы -- Рентгеновский метод (метод углов Брэгга) | |
Радиотехника -- Радиотехнические материалы и изделия -- Полупроводниковые материалы -- Строение -- Рентгеновские методы исследований | |
Физика полупроводников | |
BBK-код | В379.221,03 |
В372.212.1,03 | |
З843.304-1с383,0 | |
Специальность | 01.04.10: Физика полупроводников |
Язык | Русский |
Места хранения | OD 71 07-1/51 |
Электронный адрес | Электронный ресурс |