Казанцев, Дмитрий Всеволодович - Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.05

Казанцев, Дмитрий Всеволодович.
Экспресс-заказ фрагмента
Казанцев, Дмитрий Всеволодович.
Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.05. - Москва, 2006. - 216 с. : ил.

Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Структурный анализ твердых тел -- Электронная микроскопия
Оптика
Шифр хранения:
OD 71 07-1/136

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеБлижнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.05
Коллекции ЭК РГБ Каталог диссертаций
Коллекции ЭБ РГБ Диссертации
Дата поступления в ЭК РГБ 31.10.2006
Дата поступления в ЭБ РГБ 22.11.2008
Каталоги Диссертации
Выходные данныеМосква, 2006
Физическое описание216 с. : ил.
ТемаФизико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Структурный анализ твердых тел -- Электронная микроскопия
Оптика
BBK-кодВ372.15,03
Специальность01.04.05: Оптика
ЯзыкРусский
Места храненияOD 71 07-1/136
Электронный адрес Электронный ресурс