Казанцев, Дмитрий Всеволодович - Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.05
Карточка
Экспресс-заказ фрагмента
Казанцев, Дмитрий Всеволодович.
Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.05. - Москва, 2006. - 216 с. : ил.
Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Структурный анализ твердых тел -- Электронная микроскопия
Оптика
Шифр хранения:
Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.05. - Москва, 2006. - 216 с. : ил.
Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Структурный анализ твердых тел -- Электронная микроскопия
Оптика
Шифр хранения:
OD 71 07-1/136
Описание
Автор | Казанцев, Дмитрий Всеволодович |
---|---|
Заглавие | Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.05 |
Коллекции ЭК РГБ | Каталог диссертаций |
Коллекции ЭБ РГБ | Диссертации |
Дата поступления в ЭК РГБ | 31.10.2006 |
Дата поступления в ЭБ РГБ | 22.11.2008 |
Каталоги | Диссертации |
Выходные данные | Москва, 2006 |
Физическое описание | 216 с. : ил. |
Тема | Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Структурный анализ твердых тел -- Электронная микроскопия |
Оптика | |
BBK-код | В372.15,03 |
Специальность | 01.04.05: Оптика |
Язык | Русский |
Места хранения | OD 71 07-1/136 |
Электронный адрес | Электронный ресурс |