Попеначенко, В. И. - Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов [Текст] : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук

Экспресс-заказ фрагмента
Попеначенко, В. И.
Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов [Текст] : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук / Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции. - Киев : [б. и.], 1967. - 25 с.

Шифр хранения:
FB Др 156/760
FBKHM Др 156/761

Marc21

Скачать marc21-запись
Скачать rusmarc-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеНеразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов [Текст] : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук
Коллекции ЕЭК РГБ Каталог авторефератов диссертаций
Дата поступления в ЕЭК 29.10.2012
Каталоги Авторефераты диссертаций
Сведения об ответственностиКиевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции
Выходные данныеКиев : [б. и.], 1967
Физическое описание25 с.
ЯзыкРусский
Места храненияFB Др 156/760
FBKHM Др 156/761