Попеначенко, В. И. - Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов [Текст] : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук / Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции. - Киев : [б. и.], 1967. - 25 с.
Карточка
Экспресс-заказ фрагмента
Попеначенко, В. И.
Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов [Текст] : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук / Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции. - Киев : [б. и.], 1967. - 25 с.
Шифр хранения:
Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов [Текст] : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук / Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции. - Киев : [б. и.], 1967. - 25 с.
Шифр хранения:
FB Др 156/760
FB Др 156/761
Описание
Автор | Попеначенко, В. И. |
---|---|
Заглавие | Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов [Текст] : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук |
Коллекции ЭК РГБ | Каталог авторефератов диссертаций |
Дата поступления в ЭК РГБ | 29.10.2012 |
Каталоги | Авторефераты диссертаций |
Сведения об ответственности | Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции |
Выходные данные | Киев : [б. и.], 1967 |
Физическое описание | 25 с. |
Язык | Русский |
Места хранения | FB Др 156/760 |
FB Др 156/761 |