Попеначенко, В. И. - Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов [Текст] : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук / Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции. - Киев : [б. и.], 1967. - 25 с.
Карточка
Экспресс-заказ фрагмента
Попеначенко, В. И.
Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов [Текст] : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук / Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции. - Киев : [б. и.], 1967. - 25 с.
Шифр хранения:
Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов [Текст] : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук / Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции. - Киев : [б. и.], 1967. - 25 с.
Шифр хранения:
FB Др 156/760
FB Др 156/761
Описание
| Автор | Попеначенко, В. И. |
|---|---|
| Заглавие | Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов [Текст] : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук |
| Коллекции ЭК РГБ | Каталог авторефератов диссертаций |
| Дата поступления в ЭК РГБ | 29.10.2012 |
| Каталоги | Авторефераты диссертаций |
| Сведения об ответственности | Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции |
| Выходные данные | Киев : [б. и.], 1967 |
| Физическое описание | 25 с. |
| Язык | Русский |
| Места хранения | FB Др 156/760 |
| FB Др 156/761 |
