Иевлев, Валентин Михайлович - Электронно-микроскопическое исследование структуры границ в конденсированных пленках : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.07

Экспресс-заказ фрагмента
Иевлев, Валентин Михайлович.
Электронно-микроскопическое исследование структуры границ в конденсированных пленках : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.07. - Воронеж, 1976. - 387 с. : ил.

Физика твердого тела
Шифр хранения:
OD Дд 78-1/32

Marc21

Скачать marc21-запись

Показать

Описание

Автор
ЗаглавиеЭлектронно-микроскопическое исследование структуры границ в конденсированных пленках : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.07
Коллекции ЭК РГБ Каталог диссертаций
Дата поступления в ЭК РГБ 10.01.2018
Каталоги Диссертации
Выходные данныеВоронеж, 1976
Физическое описание387 с. : ил.
ТемаФизика твердого тела
BBK-кодВ372.15-6,03
Специальность01.04.07: Физика конденсированного состояния
ЯзыкРусский
Места храненияOD Дд 78-1/32