Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 (МЭС-2018) [Текст] : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, 1-5 октября 2018 года : сборник трудов : [в 4 выпусках] / Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук ; [под общей ред. А. Л. Стемпковского]. - Москва : ИППМ РАН, 2018. Вып. 2: Верификация и тестирование, Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС. - 2018. - 187 с. : ил., табл., цв. ил.; ISBN 978-5-94627-159-2 : 175 экз.
Карточка
Экспресс-заказ фрагмента
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 (МЭС-2018) [Текст] : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, 1-5 октября 2018 года : сборник трудов : [в 4 выпусках] / Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук ; [под общей ред. А. Л. Стемпковского]. - Москва : ИППМ РАН, 2018.
Вып. 2: Верификация и тестирование, Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС. - 2018. - 187 с. : ил., табл., цв. ил.; ISBN 978-5-94627-159-2 : 175 экз.
Шифр хранения:
Вып. 2: Верификация и тестирование, Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС. - 2018. - 187 с. : ил., табл., цв. ил.; ISBN 978-5-94627-159-2 : 175 экз.
Шифр хранения:
FB 11 18-2/194
FB 11 18-2/195
Описание
| Заглавие | Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 (МЭС-2018) [Текст] : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, 1-5 октября 2018 года : сборник трудов : [в 4 выпусках] / Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук ; [под общей ред. А. Л. Стемпковского] |
|---|---|
| Коллекции ЭК РГБ | Каталог журналов и продолжающихся изданий |
| Дата поступления в ЭК РГБ | 24.09.2018 |
| Каталоги | Книги (изданные с 1831 г. по настоящее время) |
| Выходные данные | Москва : ИППМ РАН, 2018 |
| Том | Вып. 2: Верификация и тестирование, Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС. - 2018. - 187 с. : ил., табл., цв. ил. |
| ISBN | ISBN 978-5-94627-159-2 : 175 экз. |
| BBK-код | З844.1-02я431(2) |
| Язык | Английский |
| Русский | |
| Места хранения | FB 11 18-2/194 |
| FB 11 18-2/195 |
